Sensofar 副總裁參與制定新的 ISO 25178 標準

Artigas 博士正全身心地投入在新ISO 25178 標準：產(chǎn)品幾何量技術規(guī)范（GPS）——表面結(jié)構(gòu)：區(qū)域的制定工作中。ISO 25178將是將3D 表面測量方法的規(guī)范和測量納入考量的國際標準，并將包含目前適用于非接觸式測量方法且行業(yè)常用的標準，而之前的標準在ISO 9000質(zhì)量體系框架中至今一直缺少支持質(zhì)量審查的標準。

新標準包含七個章節(jié)，由NIST（美國國家標準技術研究所）、NPL（英國國家物理實驗室）和PTB（德國聯(lián)邦物理技術研究院）等眾多科學機構(gòu)編寫制定。

ISO 25178 標準包括有關3D 測量的基本定義以及可根據(jù)不同現(xiàn)有技術的分類計算的主要參數(shù)。第6 章的主要內(nèi)容是普遍用于測量表面的方法和技術的分類，其中Artigas 博士具體描述了成像共聚焦顯微鏡（ICM）的方法。