Sensofar三維共聚焦干涉顯微鏡S neox是一款綜合性多功能三維形貌測量儀器，可以滿足用戶對三維表面測量的復雜要求——在多重聚焦模式下，可實現(xiàn)極為粗糙表面的三維測量，適用于毫米級粗糙表面的三維測量；在共聚焦模式下，橫向分辨率高達140nm，可觀察超越常規(guī)光學顯微鏡分辨率極限的細密組織，適用于微米級粗糙表面的三維測量；干涉測量模式下，可在低倍和高倍下，同時實現(xiàn)高達0.1nm的高精度縱向分辨率，適用于亞微米及納米級粗糙表面的三維測量；一機多用，可最大限度發(fā)揮產(chǎn)品的性能，節(jié)省時間和投資成本。

   Sensofar三維共聚焦干涉顯微鏡S neox實際應用范圍非常廣，可廣泛適用于汽車零部件、微電子、太陽能電池、印刷、航空、光學鏡片、公安刑偵、激光加工、摩擦學、材料性能測試、考古、醫(yī)療器械、地質(zhì)、紙張等諸多領域，簡單分享幾個實測案例如下：