澤攸科技 ZEM 系列臺(tái)式掃描電鏡：解碼微橡膠污染的微觀利器

更新時(shí)間：2025-08-05

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為什么微觀觀察是污染研究的 “第一道門(mén)"？

微橡膠顆粒的環(huán)境危害，與其微觀形貌、表面特性、粒徑分布密切相關(guān)：粗糙的表面更容易吸附重金屬和有機(jī)污染物，細(xì)小的粒徑則能穿透生物屏障進(jìn)入細(xì)胞。但這些顆粒直徑多在 1-500 微米之間，遠(yuǎn)超光學(xué)顯微鏡的分辨極限，傳統(tǒng)檢測(cè)手段難以捕捉關(guān)鍵細(xì)節(jié)。

澤攸科技 ZEM 系列臺(tái)式掃描電鏡的出現(xiàn)，為研究者打開(kāi)了微觀觀察的 “快速通道"。無(wú)需復(fù)雜樣品制備，即可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率成像，讓微橡膠顆粒的真實(shí)面貌清晰呈現(xiàn) —— 這正是青島科技大學(xué)等團(tuán)隊(duì)在 TWP 與 LAP 毒性對(duì)比研究中，能精準(zhǔn)分析顆粒特性的關(guān)鍵所在。

ZEM 系列臺(tái)式電鏡讓微觀觀察更高效、更精準(zhǔn)

作為專為科研與工業(yè)檢測(cè)設(shè)計(jì)的臺(tái)式掃描電鏡，ZEM 系列從根本上解決了傳統(tǒng)大型電鏡 “操作復(fù)雜、依賴專業(yè)人員、安裝條件苛刻" 的痛點(diǎn)，同時(shí)保持了核心性能的高標(biāo)準(zhǔn)：

高分辨率成像：1.5nm 的二次電子分辨率（30kV 下），能清晰捕捉微橡膠顆粒的表面紋理、孔隙結(jié)構(gòu)甚至納米級(jí)附著物，為分析其吸附能力提供直接依據(jù)。

快速抽真空設(shè)計(jì)：樣品放入后最快 3 分鐘即可開(kāi)始觀察，相比傳統(tǒng)電鏡動(dòng)輒半小時(shí)的抽真空時(shí)間，大幅提升實(shí)驗(yàn)效率，尤其適合批量樣品檢測(cè)。

智能化操作：搭載自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng) stitching 拼圖功能，非電鏡專業(yè)的科研人員也能快速上手，輕松獲取顆粒的全景形貌與局部細(xì)節(jié)。

靈活的樣品兼容性：無(wú)論是水體過(guò)濾后的干燥顆粒，還是生物組織中的內(nèi)嵌顆粒，都能通過(guò)針對(duì)性樣品臺(tái)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定觀察，無(wú)需復(fù)雜預(yù)處理。

從實(shí)驗(yàn)室到應(yīng)用場(chǎng)景：ZEM 如何助力微橡膠研究？

在輪胎磨損顆粒（TWP）與乳膠顆粒（LAP）的對(duì)比研究中，ZEM 系列電鏡展現(xiàn)了不可替代的價(jià)值：

形貌差異可視化：通過(guò) ZEM 的高倍成像發(fā)現(xiàn)，TWP 表面因摩擦形成了不規(guī)則的撕裂狀結(jié)構(gòu)，而 LAP 則呈現(xiàn)更光滑的球形或片狀形態(tài) —— 這種差異直接影響了兩者在水體中的沉降速率與生物可利用性。

粒徑分布精準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)：結(jié)合圖像分析軟件，ZEM 能快速統(tǒng)計(jì)數(shù)百個(gè)顆粒的尺寸數(shù)據(jù)，為研究 “粒徑與毒性的相關(guān)性" 提供量化依據(jù)（如實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn) < 50 微米的 LAP 對(duì)斑馬魚(yú)胚胎致畸性更強(qiáng)）。

表面附著物識(shí)別：通過(guò)配套的能譜儀（EDS），可同步分析顆粒表面吸附的元素成分，揭示 “微橡膠 + 污染物" 的復(fù)合毒性機(jī)制。

這些微觀層面的發(fā)現(xiàn)，正是后續(xù)毒性實(shí)驗(yàn)、環(huán)境行為分析的基礎(chǔ) —— 沒(méi)有精準(zhǔn)的形貌與結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，污染機(jī)制的研究就如同 “盲人摸象"。

不止于污染研究：臺(tái)式電鏡的 “多場(chǎng)景戰(zhàn)斗力"

ZEM 系列臺(tái)式掃描電鏡的價(jià)值，遠(yuǎn)不止于環(huán)境污染物檢測(cè)。其 “小型化、高性價(jià)比、易操作" 的特點(diǎn)，讓它成為科研與工業(yè)領(lǐng)域的 “多面手"：

材料科學(xué)：觀察電池電極的微觀結(jié)構(gòu)、復(fù)合材料的界面結(jié)合狀態(tài)；

生命科學(xué)：分析生物材料的表面形貌、微生物與載體的相互作用；

工業(yè)質(zhì)檢：快速識(shí)別電子元件的微觀缺陷、金屬材料的腐蝕形態(tài)。

相比傳統(tǒng)落地式電鏡，ZEM 系列在保持核心性能的同時(shí)，將設(shè)備體積縮小 60%，安裝無(wú)需專用機(jī)房，成本降低 50% 以上，讓更多實(shí)驗(yàn)室能擁有 “微觀觀察自由"。

從解碼微橡膠污染的秘密，到推動(dòng)新材料研發(fā)的突破，澤攸科技 ZEM 系列臺(tái)式掃描電鏡正以 “看得見(jiàn)的細(xì)節(jié)"，支撐著看不見(jiàn)的科研突破。在微觀世界的探索中，它不僅是一臺(tái)儀器，更是連接宏觀現(xiàn)象與微觀機(jī)理的 “橋梁"—— 讓每一個(gè)細(xì)微的發(fā)現(xiàn)，都能成為解決重大問(wèn)題的起點(diǎn)。