臺式掃描電子顯微鏡（Desktop SEM）作為傳統(tǒng)大型SEM的重要補充，以其便捷性和靈活性在多個領(lǐng)域展現(xiàn)出應(yīng)用價值。澤攸ZEM20便是該類別中一個值得關(guān)注的型號，它集成了多項實用技術(shù)，為用戶提供了納米尺度觀測的解決方案。

產(chǎn)品細節(jié)與用材方面，ZEM20在設(shè)計上考慮了用戶的操作體驗與設(shè)備的長期穩(wěn)定性。其鏡體部分通常采用金屬材料構(gòu)建，確保了真空腔體的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性和抗干擾能力。樣品室設(shè)計注重實用性，提供了適中的樣品空間，并配備了可電動控制的樣品臺，允許用戶在低真空模式下快速更換樣品，提升了工作效率。探測系統(tǒng)是電鏡的核心，ZEM20采用了高性能的背散射電子（BSE）探測器，其材料選擇對探測效率至關(guān)重要，確保了在不同加速電壓下能有效收集樣品成分對比信息。

產(chǎn)品性能與參數(shù)是衡量一臺電鏡的關(guān)鍵。ZEM20在不同模式下表現(xiàn)出其特點。在高真空模式下，它能提供良好的圖像分辨率，適用于大多數(shù)常規(guī)材料的微觀形貌觀察。其低真空模式允許直接觀察不導電或含水樣品，無需進行復(fù)雜的噴金預(yù)處理，這大大簡化了制樣流程，尤其適用于生物、高分子材料等領(lǐng)域。其加速電壓可在一定范圍內(nèi)調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同材質(zhì)的樣品，避免對敏感樣品造成損傷。

主要用途：ZEM20廣泛應(yīng)用于材料科學（如金屬、陶瓷、半導體缺陷分析）、生命科學（如昆蟲、植物組織、骨骼）、化工（如催化劑、粉末顆粒）以及高等教育和工業(yè)質(zhì)檢（如電子產(chǎn)品失效分析）等領(lǐng)域。它非常適合作為實驗室的日?？焖贆z測工具，或用于教學演示。

使用說明：操作流程已大為簡化。開機后，軟件系統(tǒng)會引導用戶完成抽真空等準備步驟。放置樣品后，用戶可通過軟件界面選擇觀察模式（高真空或低真空）、調(diào)節(jié)加速電壓和束流強度。然后利用電動樣品臺移動視野，并配合聚焦和像散校正功能，即可獲得清晰的二次電子或背散射電子圖像。澤攸提供的操作軟件通常集成了圖像采集、測量和標注功能，方便用戶進行后續(xù)分析。

參數(shù)表（示例）：