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BEUKER光學(xué)輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu) BEUKER三維測量白光干涉光學(xué)輪廓儀為微納尺度表面檢測提供高效解決方案。其模塊化設(shè)計(jì)支持靈活配置，滿足多樣化測量需求

BEUKER白光干涉儀：表面形貌測量新選擇 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀采用非接觸式測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析。其核心部件采用高質(zhì)量光學(xué)鏡頭和穩(wěn)定光源系統(tǒng)，確保測量數(shù)據(jù)的可靠性。

Bruker白光干涉儀高效非接觸式表面測量工具 Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用白光干涉技術(shù)，通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測量。

Bruker白光干涉儀：表面測量解決方案 Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用白光干涉技術(shù)，通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測量。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀微納檢測觸手可及。布魯克Contour X系列以“高適應(yīng)性、易操作、低維護(hù)”為核心設(shè)計(jì)理念，幫助用戶將微納檢測從專業(yè)實(shí)驗(yàn)室延伸至量產(chǎn)產(chǎn)線，為智能制造提供可靠的質(zhì)量控制手段。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀形貌測量新維度布魯克Contour X系列白光干涉光學(xué)輪廓儀，以光學(xué)干涉技術(shù)為核心，通過非接觸式測量實(shí)現(xiàn)亞納米級表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm，橫向采樣密度達(dá)640×480點(diǎn)/次，可在5-20秒內(nèi)完成單次掃描，兼顧效率與精度。