澤攸深入材料內(nèi)部的探索者

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

澤攸深入材料內(nèi)部的探索者
針對(duì)需要深入分析材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究，澤攸電鏡展現(xiàn)出優(yōu)勢(shì)。

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更新時(shí)間：2025-10-21

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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針對(duì)需要深入分析材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究，澤攸電鏡展現(xiàn)出優(yōu)勢(shì)。其采用場(chǎng)發(fā)射電子槍，加速電壓范圍 10 - 30kV，電子束斑直徑可小至 1.5nm，為高分辨率成像提供保障。

該型號(hào)配備能量色散 X 射線譜儀（EDS），能對(duì)樣品微區(qū)進(jìn)行元素定性與定量分析，元素檢測(cè)范圍從 B 到 U。EDS 探測(cè)器分辨率優(yōu)于 133eV，在分析微小夾雜物的成分時(shí)表現(xiàn)出色。

鏡筒采用雙層水冷結(jié)構(gòu)，避免電子光學(xué)系統(tǒng)因長(zhǎng)時(shí)間工作產(chǎn)生的溫度漂移，保證成像穩(wěn)定性。真空系統(tǒng)極限真空可達(dá) 1×10??Pa，適合對(duì)真空度要求較高的樣品，如易揮發(fā)的有機(jī)材料。澤攸深入材料內(nèi)部的探索者

參數(shù)方面，放大倍數(shù) 200 - 2,000,000 倍，樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn) ±30° 傾斜與 360° 旋轉(zhuǎn)，便于觀察樣品的立體結(jié)構(gòu)。使用時(shí)，通過軟件可聯(lián)動(dòng)控制電鏡與 EDS 系統(tǒng)，一鍵完成成像與成分分析的切換。

在航空航天材料檢測(cè)中，可用于分析渦輪葉片的氧化層成分；在地質(zhì)研究中，能識(shí)別礦物顆粒中的微量元素分布，為多領(lǐng)域研究提供微觀結(jié)構(gòu)與成分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。澤攸深入材料內(nèi)部的探索者

樣品臺(tái)采用高精度步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，移動(dòng)范圍為 X/Y ±5mm，Z 軸調(diào)節(jié)范圍 10mm，定位精度達(dá) 1μm，可實(shí)現(xiàn)樣品的精準(zhǔn)定位與多區(qū)域觀察。設(shè)備配備數(shù)字成像系統(tǒng)，圖像采集速度達(dá) 15 幀 / 秒，支持實(shí)時(shí)觀察與快速存儲(chǔ)。

用材上，鏡筒內(nèi)部關(guān)鍵部件采用無氧銅材質(zhì)，經(jīng)特殊工藝處理減少雜散磁場(chǎng)干擾；真空系統(tǒng)由機(jī)械泵與分子泵組成，抽氣時(shí)間短，從大氣到工作真空（≤5×10??Pa）約需 8 分鐘。

使用說明中明確了操作步驟：開機(jī)預(yù)熱 30 分鐘后，加載樣品并抽真空，待真空達(dá)標(biāo)后設(shè)置加速電壓與放大倍數(shù)，通過搖桿控制樣品臺(tái)移動(dòng)至觀察區(qū)域即可成像。適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結(jié)構(gòu)觀察等領(lǐng)域。

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