澤攸 ZEM15：高校教學(xué)顯微觀察優(yōu)選
在高?；A(chǔ)教學(xué)與入門級(jí)科研實(shí)驗(yàn)中，一款操作便捷、性能可靠的臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）能為學(xué)生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗(yàn)。澤攸臺(tái)式掃描電子顯微鏡 ZEM15，憑借貼合教學(xué)場(chǎng)景的設(shè)計(jì)與實(shí)用性能，成為眾多高校實(shí)驗(yàn)室的常用設(shè)備。
產(chǎn)品細(xì)節(jié)
ZEM15 采用緊湊臺(tái)式設(shè)計(jì)，機(jī)身尺寸僅 650mm×500mm×800mm，重量約 50kg，無(wú)需專用實(shí)驗(yàn)室，普通教室或小型實(shí)驗(yàn)室即可輕松安置。操作界面采用觸控式設(shè)計(jì)，搭配圖文并茂的引導(dǎo)菜單，學(xué)生可通過(guò)簡(jiǎn)單培訓(xùn)快速掌握基本操作，如樣品加載、放大倍數(shù)調(diào)節(jié)、圖像保存等。樣品室為側(cè)開(kāi)式結(jié)構(gòu)，最大可容納直徑 50mm、高度 30mm 的樣品，配備簡(jiǎn)易樣品臺(tái)，支持 X/Y 軸手動(dòng)微調(diào)，方便定位觀察區(qū)域。設(shè)備正面設(shè)有高清顯示屏，可實(shí)時(shí)顯示微觀圖像，同時(shí)支持 HDMI 接口外接投影儀，便于教學(xué)演示時(shí)全班共同觀察。此外，機(jī)身側(cè)面預(yù)留 USB 接口，可直接導(dǎo)出圖像數(shù)據(jù)，無(wú)需復(fù)雜的數(shù)據(jù)分析軟件，滿足教學(xué)報(bào)告撰寫需求。
產(chǎn)品性能
ZEM15 的分辨率能滿足基礎(chǔ)微觀觀察需求，二次電子圖像分辨率可達(dá) 3.0nm（30kV），能清晰呈現(xiàn)金屬、半導(dǎo)體、生物樣品等的表面微觀結(jié)構(gòu)，如金屬晶粒、細(xì)胞形態(tài)、材料表面缺陷等。設(shè)備加速電壓范圍為 0.5 - 15kV，可根據(jù)樣品導(dǎo)電性選擇合適電壓，避免絕緣樣品充電問(wèn)題；放大倍數(shù)覆蓋 20 - 100000 倍，從低倍宏觀觀察到高倍細(xì)節(jié)分析均可實(shí)現(xiàn)。在圖像采集方面，支持實(shí)時(shí)掃描與靜態(tài)拍照，圖像幀率可達(dá) 15 幀 / 秒，能動(dòng)態(tài)觀察樣品表面特征，且多次采集的圖像重復(fù)性較好，適合教學(xué)中對(duì)比不同樣品的微觀差異。此外，設(shè)備具備自動(dòng)聚焦與自動(dòng)亮度 / 對(duì)比度調(diào)節(jié)功能，減少人工操作誤差，降低學(xué)生操作難度。
用材講究
為平衡成本與耐用性，ZEM15 的外殼采用高強(qiáng)度工程塑料，表面經(jīng)過(guò)耐磨處理，能承受教學(xué)環(huán)境中頻繁的觸碰與清潔。樣品室內(nèi)部采用不銹鋼材質(zhì)，具備一定的抗腐蝕能力，可應(yīng)對(duì)生物樣品固定液、金屬樣品清洗溶劑等常見(jiàn)化學(xué)試劑的輕微污染。電子光學(xué)系統(tǒng)的核心部件 —— 電子槍選用燈絲壽命較長(zhǎng)的鎢燈絲，使用壽命可達(dá) 100 - 200 小時(shí)，降低教學(xué)過(guò)程中的耗材更換頻率與成本。鏡頭組件采用高純度玻璃與金屬鍍膜，減少電子散射，保障圖像清晰度；內(nèi)部電路采用模塊化設(shè)計(jì)，若某一部件故障，可單獨(dú)更換，降低維修難度與成本。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在高校材料科學(xué)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)課程中，ZEM15 可用于觀察金屬材料的金相組織、聚合物的表面形貌，幫助學(xué)生理解材料結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系；在生物學(xué)實(shí)驗(yàn)中，能觀察動(dòng)植物細(xì)胞的冷凍干燥樣品、微生物的形態(tài)特征，輔助講解細(xì)胞結(jié)構(gòu)與生命活動(dòng)規(guī)律；在地質(zhì)學(xué)教學(xué)中，可分析巖石薄片、礦物顆粒的微觀結(jié)構(gòu)，讓學(xué)生直觀認(rèn)識(shí)地質(zhì)樣品的組成與形成過(guò)程；此外，在職業(yè)教育的機(jī)電專業(yè)實(shí)訓(xùn)中，還能用于檢測(cè)機(jī)械零件的表面磨損、微小缺陷，幫助學(xué)生理解加工工藝對(duì)零件質(zhì)量的影響。
使用說(shuō)明
使用前，需將 ZEM15 放置在水平、無(wú)明顯振動(dòng)的工作臺(tái)上，遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)（如大型電機(jī)）與強(qiáng)電場(chǎng)（如高壓設(shè)備），避免陽(yáng)光直射。打開(kāi)設(shè)備電源，進(jìn)行預(yù)熱，預(yù)熱時(shí)間建議不少于 30 分鐘，期間檢查真空系統(tǒng)是否正常（設(shè)備內(nèi)置小型真空機(jī)組，無(wú)需外接真空設(shè)備）。準(zhǔn)備樣品時(shí)，需確保樣品干燥、清潔，導(dǎo)電性差的樣品（如塑料、陶瓷）需進(jìn)行噴金處理（設(shè)備可搭配小型噴金儀使用）；將樣品固定在樣品臺(tái)上，通過(guò)側(cè)開(kāi)式樣品室門放入設(shè)備，關(guān)閉樣品室后啟動(dòng)抽真空程序，待真空度達(dá)到要求（真空指示燈常亮）后開(kāi)始觀察。通過(guò)觸控屏選擇加速電壓、放大倍數(shù)，啟動(dòng)圖像掃描，調(diào)節(jié)聚焦、亮度與對(duì)比度，直至圖像清晰；如需切換觀察區(qū)域，可暫停掃描，手動(dòng)微調(diào)樣品臺(tái)位置后重新掃描。觀察完成后，保存圖像數(shù)據(jù)至 U 盤，關(guān)閉掃描程序，待樣品室放氣后取出樣品。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后，關(guān)閉設(shè)備電源，清潔樣品室內(nèi)部（可用無(wú)塵布擦拭樣品臺(tái)），定期（建議每學(xué)期）檢查電子槍燈絲狀態(tài)，若燈絲損耗嚴(yán)重，及時(shí)更換；每半年請(qǐng)專業(yè)人員對(duì)真空系統(tǒng)進(jìn)行維護(hù)，確保設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。
技術(shù)參數(shù)
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