多技術(shù)融合：S neox應(yīng)對(duì)復(fù)雜測(cè)量挑戰(zhàn)

面對(duì)日益復(fù)雜的樣品和更高的檢測(cè)要求，單一測(cè)量技術(shù)有時(shí)會(huì)顯得力不從心。Sensofar S neox的多技術(shù)融合特性，使其能夠從容應(yīng)對(duì)各種復(fù)雜的表面測(cè)量挑戰(zhàn)，為用戶(hù)提供一個(gè)更全面、更可靠的工具。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀

產(chǎn)品細(xì)節(jié)與性能

S neox的“多技術(shù)融合"并非簡(jiǎn)單拼湊，而是深層次整合。其智能系統(tǒng)能根據(jù)預(yù)設(shè)的程序，在同一視場(chǎng)內(nèi)自動(dòng)切換不同的測(cè)量技術(shù)。例如，可以先使用共聚焦模式快速掃描整個(gè)區(qū)域并識(shí)別出具有不同特征的子區(qū)域，然后針對(duì)光滑區(qū)域自動(dòng)切換到干涉模式進(jìn)行納米級(jí)精度的測(cè)量。

這種智能的工作流程不僅保證了每個(gè)特征都能用最合適的技術(shù)進(jìn)行測(cè)量，還避免了人為切換帶來(lái)的誤差和時(shí)間消耗。True Color技術(shù)還能在測(cè)量形貌的同時(shí)，捕獲真實(shí)的表面顏色信息，為分析提供更多維度的參考。

用途深入解析

在MEMS器件測(cè)量中，既有高深寬比的結(jié)構(gòu)（適合共聚焦），又有光滑的反射面（適合干涉），S neox可一次測(cè)量全面表征。在透明薄膜測(cè)量中，共聚焦模式可以過(guò)濾掉底層反射的干擾，準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表面形貌。在混合材料樣品上，不同材質(zhì)的反射率差異巨大，多技術(shù)選擇確保了測(cè)量的成功率。

使用說(shuō)明

用戶(hù)可以在SensoMAP軟件中輕松設(shè)置測(cè)量序列（Recipe），將不同技術(shù)的測(cè)量步驟、物鏡選擇、參數(shù)設(shè)置等保存下來(lái)。日后遇到同類(lèi)樣品，只需調(diào)用該Recipe，即可實(shí)現(xiàn)一鍵式全自動(dòng)測(cè)量，極大降低了對(duì)操作人員的技術(shù)要求，保證了測(cè)量結(jié)果的一致性和可重復(fù)性。Sensofar新型共聚焦白光干涉輪廓儀

多技術(shù)融合：S neox應(yīng)對(duì)復(fù)雜測(cè)量挑戰(zhàn)