澤攸 JS3000B：全自動臺階測量工具

產(chǎn)品簡介

澤攸 JS3000B：全自動臺階測量工具
在精密制造與材料研究領域，對臺階高度、薄膜厚度等參數(shù)的精準測量是保證產(chǎn)品質(zhì)量與研究深度的重要環(huán)節(jié)。澤攸全自動臺階儀 JS3000B 憑借自動化的操作模式與穩(wěn)定的測量性能，成為批量樣品檢測與精細分析的實用選擇，適合對測量效率與數(shù)據(jù)可靠性有要求的場景。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-22

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品分類

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澤攸 JS3000B：全自動臺階測量工具

在精密制造與材料研究領域，對臺階高度、薄膜厚度等參數(shù)的精準測量是保證產(chǎn)品質(zhì)量與研究深度的重要環(huán)節(jié)。澤攸全自動臺階儀 JS3000B 憑借自動化的操作模式與穩(wěn)定的測量性能，成為批量樣品檢測與精細分析的實用選擇，適合對測量效率與數(shù)據(jù)可靠性有要求的場景。

產(chǎn)品細節(jié)：自動化設計兼顧便捷與精準

JS3000B 的機身采用合金鋼架與大理石底座組合結(jié)構，整體穩(wěn)定性強，能有效抵抗外界振動對測量的干擾。設備前端配備 12 英寸高清觸控屏，操作界面劃分清晰，包含程序設置、數(shù)據(jù)瀏覽、設備狀態(tài)監(jiān)測等板塊，觸控反應靈敏，操作人員可快速完成參數(shù)調(diào)整。

測量平臺為航空級鋁合金材質(zhì)，經(jīng)精密加工后平面度誤差小，尺寸達 250mm×200mm，可同時放置多個規(guī)格樣品。平臺由伺服電機驅(qū)動的 XY 軸系統(tǒng)控制，移動范圍為 200mm×150mm，定位精度在微米級別，能自動將樣品待測區(qū)域移送至測頭下方。平臺邊緣設有可調(diào)節(jié)定位塊，配合磁吸式夾具，可快速固定不同尺寸的樣品，縮短裝夾時間。

測頭系統(tǒng)采用模塊化設計，測頭針尖為天然金剛石，半徑≤1μm，安裝于 Z 軸高精度導軌上。Z 軸驅(qū)動采用進口壓電陶瓷電機，升降精度達納米級，可精準控制測頭與樣品表面的接觸力度。設備內(nèi)置光學對位裝置，通過高清攝像頭捕捉樣品表面標記，實現(xiàn)測量位置的自動識別與對準。

設備后部設有 USB、HDMI、以太網(wǎng)等接口，支持連接電腦、打印機等設備，方便數(shù)據(jù)導出與報告生成。散熱系統(tǒng)采用智能溫控風扇，僅在設備溫度過高時啟動，減少運行噪音。

產(chǎn)品性能：穩(wěn)定輸出滿足多樣測量需求

JS3000B 的測量范圍為 0-1500μm，最小分辨力達 0.05nm，可覆蓋從納米到微米級的臺階測量需求。對同一標準臺階進行多次測量，偏差較小，能滿足批量生產(chǎn)中的質(zhì)量控制要求。

設備的自動化測量流程涵蓋自動對焦、找點、測量、數(shù)據(jù)記錄等環(huán)節(jié)，單次測量耗時可控制在 20 秒以內(nèi)，大幅提升測量效率。測頭測力可通過軟件調(diào)節(jié)，范圍為 3-150mN，調(diào)節(jié)步長 1mN，能適應從柔軟生物薄膜到硬質(zhì)合金的多種樣品。

測量過程中，設備會實時監(jiān)測測頭狀態(tài)與樣品位置，若出現(xiàn)測頭異?；驑悠菲?，會自動暫停并發(fā)出提示，避免設備損壞與數(shù)據(jù)錯誤。設備可存儲多組測量程序，操作人員可針對不同樣品預設參數(shù)，下次使用時直接調(diào)用，減少重復設置時間。

在環(huán)境適應性上，JS3000B 能在溫度 18-22℃、濕度 30%-60% 的環(huán)境中穩(wěn)定工作，配合內(nèi)置的溫度補償功能，可降低環(huán)境溫度波動對測量結(jié)果的影響。

用材、參數(shù)與用途

JS3000B 的關鍵部件選用高品質(zhì)材料，測頭桿為鈦合金材質(zhì)，剛性好且熱膨脹系數(shù)低；XY 軸導軌采用精密滾珠絲杠與花崗巖導軌基座，保證移動精度；Z 軸壓電陶瓷電機響應速度快，位移分辨率高；觸控屏為工業(yè)級，抗干擾能力強，適合車間與實驗室環(huán)境。

部分參數(shù)如下：

測量范圍：0-1500μm

最小分辨力：0.05nm

測頭針尖半徑：≤1μm

測力范圍：3-150mN（可調(diào)）

XY 軸移動范圍：200mm×150mm

定位精度：±0.5μm

設備重量：約 100kg

供電要求：AC 220V±10%，50Hz

該設備廣泛應用于半導體制造、光學元件加工、新材料研發(fā)等領域。在半導體行業(yè)，可測量芯片上金屬布線的臺階高度、氧化層厚度；光學領域用于檢測鏡片鍍膜的厚度均勻性；新材料研發(fā)中，能分析薄膜材料的生長厚度與表面臺階變化，為工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

使用說明

使用前需檢查設備供電與接地是否正常，開機后設備會進行自檢，約 5 分鐘后進入待機狀態(tài)。將樣品放置在測量平臺的定位區(qū)域，啟動磁吸夾具固定樣品，通過觸控屏上的攝像頭預覽畫面，框選需要測量的區(qū)域，或調(diào)用預設的測量程序。

在軟件中設置測量參數(shù)，包括測力大小、采樣點數(shù)、移動速度等，點擊 “開始測量" 后，設備會自動完成定位、測量、數(shù)據(jù)存儲等操作。測量完成后，可在屏幕上查看測量結(jié)果與曲線，也可導出至電腦生成報告。

操作時需注意，樣品表面應清潔無雜質(zhì)，避免劃傷測頭；裝夾樣品時避免用力過大導致樣品變形；測量完成后，需將測頭移動至安全位置再取下樣品；定期清潔測量平臺與測頭，保持設備整潔。

設備維護方面，建議每月檢查導軌潤滑情況，每季度校準測頭零點，每年由專業(yè)人員進行精度校驗，確保設備長期穩(wěn)定工作。

澤攸 JS3000B 全自動臺階儀以自動化的操作流程、穩(wěn)定的測量性能與廣泛的適用性，為精密制造與研發(fā)領域的臺階測量提供了高效解決方案，適合對測量效率與精度有較高要求的企業(yè)與實驗室。

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