澤攸掃描電鏡：科研與工業(yè)得力助手

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

澤攸掃描電鏡：科研與工業(yè)得力助手
在焊接技術(shù)應(yīng)用廣泛的制造業(yè)中，焊接質(zhì)量的把控直接關(guān)系到產(chǎn)品的安全性和可靠性。傳統(tǒng)檢測(cè)手段在分析焊接區(qū)域微觀細(xì)節(jié)時(shí)存在一定局限性，而ZEM20臺(tái)式掃描電鏡的引入，為焊接質(zhì)量檢測(cè)提供了新的技術(shù)支持。

產(chǎn)品型號(hào)：ZEM20

更新時(shí)間：2025-10-22

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：123

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸掃描電鏡：科研與工業(yè)得力助手

在焊接技術(shù)應(yīng)用廣泛的制造業(yè)中，焊接質(zhì)量的把控直接關(guān)系到產(chǎn)品的安全性和可靠性。傳統(tǒng)檢測(cè)手段在分析焊接區(qū)域微觀細(xì)節(jié)時(shí)存在一定局限性，而ZEM20臺(tái)式掃描電鏡的引入，為焊接質(zhì)量檢測(cè)提供了新的技術(shù)支持。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡具備清晰的成像能力，能夠呈現(xiàn)焊接區(qū)域的微觀形貌。通過觀察焊縫的晶粒分布、熔合線特征以及可能存在的氣孔、夾渣等缺陷，技術(shù)人員可獲取直觀的微觀結(jié)構(gòu)信息，為分析焊接工藝參數(shù)的合理性提供依據(jù)。這種可視化的檢測(cè)方式，有助于在研發(fā)階段優(yōu)化焊接工藝，或在生產(chǎn)中及時(shí)定位質(zhì)量問題。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡具備高分辨率成像能力，分辨率可達(dá)4nm@20kV，放大倍數(shù)最高可達(dá)36萬(wàn)倍，適用于高精度微觀結(jié)構(gòu)分析。其操作便捷，支持一鍵完成樣品觀察與圖像分析，提升檢測(cè)效率。設(shè)備適用于材料科學(xué)、電子制造、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)質(zhì)檢及科研教育等領(lǐng)域，具有高效便捷、靈活拓展和廣泛適配的優(yōu)勢(shì)。

ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡是澤攸科技ZEM系列中的一款高性價(jià)比臺(tái)式掃描電子顯微鏡，采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，如真空分隔技術(shù)，通過電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。設(shè)備具備超大樣品倉(cāng)和高清攝像頭，支持原位實(shí)驗(yàn)擴(kuò)展，滿足科研的多樣化需求。

ZEM20的操作界面簡(jiǎn)潔，操作便捷，支持一鍵完成樣品觀察與圖像分析。其成像速度快，抽真空時(shí)間小于30秒，光學(xué)導(dǎo)航與艙內(nèi)攝像頭支持快速找樣，樣品艙實(shí)時(shí)觀察，軟件支持自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散等功能，提升操作效率。設(shè)備具備高分辨率成像能力，分辨率可達(dá)4nm@20kV，放大倍數(shù)最高可達(dá)36萬(wàn)倍，適用于高精度微觀結(jié)構(gòu)分析。

ZEM20適用于材料科學(xué)、電子制造、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)質(zhì)檢及科研教育等領(lǐng)域，具有高效便捷、靈活拓展和廣泛適配的優(yōu)勢(shì)。其高性價(jià)比和良好的性能，使其成為高校、研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)的重要選擇。

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