布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南
布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 憑借獨特的光學(xué)測量原理，具備多項實用性能，在多個領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，是工業(yè)生產(chǎn)與科研實驗中的重要測量工具。

產(chǎn)品型號：ContourX-100

更新時間：2025-10-23

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：151

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

ContourX-100 是布魯克推出的臺式三維光學(xué)輪廓儀，型號為 ContourX-100，屬于非接觸式輪廓儀 / 粗糙度儀范疇，產(chǎn)地為馬來西亞。其核心依托白光干涉（WLI）技術(shù)，這一技術(shù)積累源于布魯克四十余年的光學(xué)創(chuàng)新經(jīng)驗，可在單次采集過程中結(jié)合 3D WLI 與 2D 成像技術(shù)完成多項分析。該設(shè)備主打小尺寸設(shè)計，體積小于 330mm×330mm×550mm，重量不足 18kg，既能適配實驗室場景，也能滿足工廠車間的緊湊布局需求。

布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

二、關(guān)鍵性能與適用場景

在測量性能上，ContourX-100 的 Z 軸分辨率不受放大倍率影響，能保持穩(wěn)定的測量表現(xiàn)。其配備的 500 萬像素攝像頭（2592×1944 分辨率）支持 1X、2X、4X 光學(xué)變焦，配合更新后的載物臺，可實現(xiàn)更大范圍的圖形拼接功能。針對不同反射率表面，設(shè)備能適配 0.05% 至 100% 的反射率范圍，無論是精密加工件的粗糙表面，還是薄膜的光滑表面，均能完成測量。

在應(yīng)用場景中，該設(shè)備可覆蓋精密工程、MEMS 與傳感器、骨科 / 眼科等多個領(lǐng)域。以精密工程為例，它能監(jiān)測零部件的表面紋理與幾何尺寸，輔助評估 GD&T 合規(guī)性；在 MEMS 領(lǐng)域，可完成刻蝕深度、膜厚、臺階高度等參數(shù)的重復(fù)性測量。

三、核心組件與技術(shù)細節(jié)

設(shè)備的縱向掃描由閉環(huán)反饋壓電陶瓷驅(qū)動，縱向運動范圍達 100mm，壓電陶瓷驅(qū)動的掃描范圍為 500μm，兩者測量精度均可達 0.1nm，垂向掃描速度為 12μm/sec。載物臺尺寸為 100mm×100mm，支持手動和自動聚焦，具備四向傾斜水平調(diào)整功能，偏角調(diào)整范圍為 ±5°。

軟件系統(tǒng)搭載 VisionXpress™與 Vision64® 雙界面，內(nèi)置上千項自定義分析功能和豐富的預(yù)編程濾鏡，可滿足 ISO 25178、ASME B46.1、ISO 4287 等多項標(biāo)準的分析需求，能生成定制化報告。此外，設(shè)備還標(biāo)配 SHS-CrOnSi-10um 臺階高度標(biāo)準厚度片，用于校準與精度驗證。

四、使用價值與適配優(yōu)勢

ContourX-100 的設(shè)計兼顧了測量能力與操作便捷性，其自動功能包括自動拼接、散射和網(wǎng)格自動化，以及自動對焦、強度調(diào)節(jié)、數(shù)據(jù)保存等，能提升測量效率。對于需要移動辦公或多場景數(shù)據(jù)處理的用戶，設(shè)備配套的 Online 在線分析平臺支持上傳 fibps 格式文件，移動端 APP 可實現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲、查看與離線分析，進一步拓展了使用靈活性。這種硬件與軟件的組合，使其在臺式設(shè)備中具備較高的性價比，適合對測量精度和效率有雙重需求的用戶。布魯克白光干涉儀輪廓儀使用與維護指南

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