Sensofar S wide：難測(cè)樣品也能輕松應(yīng)對(duì)
一、透明樣品：不被反光干擾的檢測(cè)方案
在光學(xué)行業(yè)檢測(cè)透明樣品（如大尺寸玻璃蓋板、光學(xué)鏡片、透明薄膜）時(shí)，傳統(tǒng)設(shè)備常因表面反光導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真，而 Sensofar S wide 通過(guò)專(zhuān)屬光學(xué)設(shè)計(jì)，能輕松應(yīng)對(duì)這類(lèi)難題，無(wú)需額外加裝復(fù)雜附件。
比如檢測(cè)一塊 1 米長(zhǎng)的透明玻璃蓋板時(shí)，傳統(tǒng)設(shè)備可能需要反復(fù)調(diào)整角度避開(kāi)反光，仍難以完整捕捉表面劃痕；而 S wide 搭載的 “透明樣品優(yōu)化系統(tǒng)"，會(huì)自動(dòng)調(diào)節(jié)光源角度與光譜范圍，削弱表面反光的同時(shí)，增強(qiáng)樣品內(nèi)部缺陷（如氣泡、雜質(zhì)）的成像效果。一次掃描就能清晰呈現(xiàn)玻璃表面的細(xì)微劃痕（甚至 0.5μm 級(jí)別的痕跡）與內(nèi)部雜質(zhì)分布，不用分區(qū)域多次檢測(cè)，大幅減少操作時(shí)間。
對(duì)于多層透明薄膜樣品，S wide 還能通過(guò) “分層成像技術(shù)"，區(qū)分不同薄膜層的表面狀態(tài)。比如檢測(cè)三層復(fù)合光學(xué)薄膜時(shí)，設(shè)備可分別呈現(xiàn)每層薄膜的平整度與粗糙度數(shù)據(jù)，幫助判斷各層工藝是否達(dá)標(biāo)，避免傳統(tǒng)設(shè)備 “多層數(shù)據(jù)混疊" 的問(wèn)題，為薄膜生產(chǎn)工藝優(yōu)化提供更精準(zhǔn)的參考。
二、柔性樣品：避免變形的非接觸測(cè)量
檢測(cè)柔性樣品（如大尺寸柔性電路板、塑料薄膜、金屬箔片）時(shí)，最大的顧慮是樣品因夾持或接觸受力變形，影響檢測(cè)結(jié)果。S wide 的非接觸測(cè)量方式與樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，從源頭解決了這一痛點(diǎn)。
以檢測(cè) 1.2 米長(zhǎng)的柔性電路板為例，傳統(tǒng)設(shè)備需要用夾具固定樣品，容易導(dǎo)致電路板邊緣變形，進(jìn)而影響表面元件高度測(cè)量的準(zhǔn)確性；而 S wide 的樣品臺(tái)采用 “柔性支撐設(shè)計(jì)"，通過(guò)均勻分布的吸附點(diǎn)輕輕固定樣品，既避免樣品移位，又不會(huì)產(chǎn)生局部壓力導(dǎo)致變形。搭配非接觸式光學(xué)測(cè)量，無(wú)需觸碰樣品表面，就能完整掃描電路板的表面形貌，精準(zhǔn)記錄元件高度、焊點(diǎn)狀態(tài)等數(shù)據(jù)，為柔性電子元件的質(zhì)量檢測(cè)提供可靠支持。
檢測(cè)塑料薄膜時(shí)，S wide 還能根據(jù)薄膜厚度自動(dòng)調(diào)整掃描參數(shù)，即使薄膜存在輕微褶皺，設(shè)備的 “褶皺補(bǔ)償算法" 也能識(shí)別并修正數(shù)據(jù)偏差，確保最終結(jié)果能反映薄膜的真實(shí)表面狀態(tài)，不用反復(fù)展平樣品或篩選 “平整區(qū)域" 檢測(cè)。
三、高反光樣品：告別 “光斑干擾" 的困擾
金屬板材、鍍膜零件等高反光樣品，在檢測(cè)時(shí)容易因光線(xiàn)反射形成光斑，導(dǎo)致局部數(shù)據(jù)缺失。S wide 通過(guò)優(yōu)化的光學(xué)系統(tǒng)與算法，能有效抑制光斑干擾，完整獲取樣品表面數(shù)據(jù)。
比如檢測(cè)大尺寸不銹鋼板材的表面粗糙度時(shí)，傳統(tǒng)設(shè)備掃描后常出現(xiàn)局部光斑區(qū)域數(shù)據(jù)空白，需要手動(dòng)補(bǔ)掃；而 S wide 的 “多角度光源系統(tǒng)" 會(huì)從不同方向投射光線(xiàn)，減少單一角度反光形成的光斑，同時(shí) “光斑修復(fù)算法" 會(huì)對(duì)局部反光區(qū)域的數(shù)據(jù)進(jìn)行智能補(bǔ)全，一次掃描就能獲得完整的表面粗糙度數(shù)據(jù)，無(wú)需后續(xù)補(bǔ)掃或手動(dòng)修正。
對(duì)于鍍膜金屬零件（如汽車(chē)輪轂鍍膜件），S wide 還能區(qū)分 “鍍膜層表面" 與 “基材表面" 的狀態(tài)，精準(zhǔn)檢測(cè)鍍膜層的厚度均勻性與表面缺陷，避免傳統(tǒng)設(shè)備 “鍍膜層與基材數(shù)據(jù)混淆" 的問(wèn)題，為鍍膜工藝質(zhì)量把控提供有效支持。
無(wú)論是透明、柔性還是高反光樣品，Sensofar S wide 都能通過(guò)針對(duì)性的設(shè)計(jì)與技術(shù)優(yōu)化，解決傳統(tǒng)測(cè)量中的痛點(diǎn)，無(wú)需用戶(hù)額外學(xué)習(xí)復(fù)雜操作或搭配專(zhuān)用附件，就能輕松完成各類(lèi)難測(cè)樣品的檢測(cè)，成為覆蓋多類(lèi)型樣品的實(shí)用測(cè)量工具。
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