• 可能原因與排除：

  
  

• 樣品問(wèn)題：表面太粗糙（散射嚴(yán)重）、太暗（反射率極低）或傾斜角度過(guò)大。嘗試對(duì)已知良好的標(biāo)準(zhǔn)樣塊進(jìn)行測(cè)量，以確認(rèn)是否為樣品問(wèn)題。對(duì)于低反光樣品，可嘗試噴涂薄層金粉或使用更高亮度。

  
  

• 對(duì)焦不準(zhǔn)：重新進(jìn)行精確對(duì)焦，確保樣品表面位于物鏡的最jia工作距離內(nèi)。

  
  

• 光路污染：檢查物鏡、參考鏡表面是否有污漬或灰塵。按照規(guī)范流程小心清潔光學(xué)元件。

  
  

• 光源問(wèn)題：檢查光源是否老化、亮度是否足夠，或連接是否松動(dòng)。必要時(shí)更換光源。

  
  

• 硬件故障：如上述均無(wú)效，可能涉及內(nèi)部光路偏移或相機(jī)故障，需聯(lián)系技術(shù)支持。

  
  

• 可能原因與排除：

  
  

• 環(huán)境振動(dòng)：這是zui常見原因。確認(rèn)設(shè)備放置在穩(wěn)固的隔振臺(tái)上，遠(yuǎn)離風(fēng)扇、泵、交通等振源?？稍谝归g或安靜時(shí)段測(cè)試對(duì)比。

  
  

• 空氣擾動(dòng)：關(guān)閉通風(fēng)口、門窗，避免人員近距離快速走動(dòng)。

  
  

• 樣品不穩(wěn)定：確保樣品固定牢固，無(wú)松動(dòng)。對(duì)于輕薄或柔性樣品，考慮改進(jìn)夾持方式。

  
  

• 掃描參數(shù)不當(dāng)：嘗試增加掃描時(shí)的圖像平均次數(shù)（Averaging）以減少隨機(jī)噪聲。檢查掃描速度是否過(guò)快。

  
  

• 溫度波動(dòng)：確保實(shí)驗(yàn)室溫度穩(wěn)定。設(shè)備預(yù)熱時(shí)間不足也可能導(dǎo)致熱漂移。

  
  

• 可能原因與排除：

  
  

• 表面污染物：樣品表面或物鏡上有灰塵、纖維。徹di清潔樣品和物鏡。

  
  

• 靜電干擾：干燥環(huán)境易產(chǎn)生靜電，吸附灰塵或干擾信號(hào)。使用離子風(fēng)機(jī)除靜電，增加環(huán)境濕度。

  
  

• 軟件處理偽影：對(duì)于高反射率邊緣或透明材料邊緣，算法可能解算錯(cuò)誤。嘗試調(diào)整算法設(shè)置（如相干峰搜索范圍），或手動(dòng)剔除無(wú)效區(qū)域。

  
  

• 硬件瞬態(tài)故障：罕見，可重啟設(shè)備或重新測(cè)量看是否復(fù)現(xiàn)。

  
  

• 可能原因與排除：

  
  

• 樣品局部高反射：表面有鏡面區(qū)域?qū)е滦盘?hào)飽和（過(guò)曝）。降低光源亮度或使用偏振片。

  
  

• 陡峭側(cè)壁或深溝槽：光線無(wú)法反射回物鏡。嘗試使用更高數(shù)值孔徑（NA）的物鏡，或從不同角度傾斜測(cè)量并拼接數(shù)據(jù)。

  
  

• 物鏡或附件遮擋：檢查是否有附件（如偏振片、濾光片）未正確安裝或部分遮擋光路。

  
  

• 對(duì)焦區(qū)域不平：如果樣品表面高度變化超過(guò)物鏡景深，部分區(qū)域會(huì)失焦。嘗試使用自動(dòng)對(duì)焦掃描（如果支持）或分段測(cè)量。

  
  

• 可能原因與排除：

  
  

• 校準(zhǔn)失效：設(shè)備可能未校準(zhǔn)或校準(zhǔn)過(guò)期。使用經(jīng)過(guò)認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣塊重新校準(zhǔn)Z軸和XY軸。

  
  

• 溫度影響：樣品或標(biāo)準(zhǔn)器的溫度與校準(zhǔn)時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)溫度（通常20°C）差異較大。在恒溫實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行測(cè)量和校準(zhǔn)。

  
  

• 軟件設(shè)置錯(cuò)誤：檢查物鏡倍率、相機(jī)像素尺寸等系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置是否正確。

  
  

• 數(shù)據(jù)處理誤差：檢查傾斜校正、濾波等后處理步驟是否引入了偏差。與原始數(shù)據(jù)對(duì)比。

  
  

• 可能原因與排除：

  
  

• 計(jì)算機(jī)性能不足：三維數(shù)據(jù)處理對(duì)CPU和內(nèi)存要求高。確保計(jì)算機(jī)滿足zui低系統(tǒng)要求，關(guān)閉不必要的后臺(tái)程序。

  
  

• 數(shù)據(jù)量過(guò)大：掃描范圍過(guò)大或步長(zhǎng)過(guò)小會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)文件巨大。優(yōu)化掃描參數(shù)，或分段處理大樣品。

  
  

• 軟件沖突或損壞：重啟計(jì)算機(jī)，重新安裝或更新測(cè)量軟件。檢查與殺毒軟件或其他軟件的兼容性。

  
  

ContourX-500布魯克常見問(wèn)題診斷與排除