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Sensofar 3D光學(xué)輪廓測量中的應(yīng)用：白光干涉共聚焦顯微鏡是一種非接觸式3D光學(xué)輪廓儀，它融合白光干涉與共聚焦技術(shù)，可對微納米尺度表面進(jìn)行高分辨率三維形貌測量，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、精密加工及材料研發(fā)等領(lǐng)域。

Sensofar 3D白光干涉共聚焦顯微鏡的應(yīng)用:白光干涉共聚焦顯微鏡結(jié)合白光干涉與共聚焦技術(shù)，實(shí)現(xiàn)高分辨率、非接觸式三維表面形貌測量，是3D光學(xué)輪廓儀的高級形式，廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測與科學(xué)研究。

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的光學(xué)檢測應(yīng)用；Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀為光學(xué)元件提供納米級精度的面形誤差、表面缺陷及膜層厚度等關(guān)鍵參數(shù)檢測，確保從球面到自由曲面元件的高質(zhì)量制造與工藝優(yōu)化。

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的工業(yè)檢測應(yīng)用；實(shí)現(xiàn)在線高速檢測、工藝參數(shù)優(yōu)化與故障件形貌分析，并可集成于生產(chǎn)系統(tǒng)，推動(dòng)智能制造質(zhì)量控制閉環(huán)。

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的電子材料檢測：用于晶圓平整度、線寬粗糙度及封裝質(zhì)量的精確測量，為電子材料工藝優(yōu)化和可靠性評估提供支撐。

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀的材料科學(xué)研究：支持材料表面改性、相變過程原位觀察及斷裂/腐蝕等失效分析，助力新材料的開發(fā)與性能優(yōu)化。