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在納米材料研發(fā)、先進(jìn)儲(chǔ)能器件優(yōu)化及半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域，材料在服役環(huán)境中的動(dòng)態(tài)行為研究至關(guān)重要。北京儀光憑借澤攸SEM/TEM原位分析系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)靜態(tài)表征的局限，為科學(xué)家提供了實(shí)時(shí)觀測(cè)材料微觀結(jié)構(gòu)演變的“納米級(jí)顯微鏡”，成為推動(dòng)材料科學(xué)突破的關(guān)鍵工具。1.原位SEM：動(dòng)態(tài)形變與失效機(jī)制的“現(xiàn)場(chǎng)直播”ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡搭載的原位拉伸/壓縮模塊，可在真空或可控氣氛環(huán)境中對(duì)金屬、陶瓷、高分子材料進(jìn)行納米級(jí)精度的力學(xué)加載。例如，在鋰離子電池隔膜研究中，通過原位SEM可實(shí)時(shí)觀察隔膜...

在現(xiàn)代電子設(shè)備中，有一群“隱形功臣”——微型BUMPS。它們是集成電路里的核心連接器，負(fù)責(zé)實(shí)現(xiàn)堆疊管芯或中介層之間的電氣和機(jī)械連接，手機(jī)、平板、電腦等設(shè)備能高效運(yùn)轉(zhuǎn)，可離不開它們的功勞。01高精度測(cè)量，全面分析使用50倍干涉鏡頭，Sneox能對(duì)微型BUMPS進(jìn)行三維輪廓測(cè)量，在高分辨率下全面分析，驗(yàn)證其高度、直徑和平整度，有效防止粘合失敗并優(yōu)化電氣性能。更厲害的是，僅需3秒就能分析所有測(cè)量數(shù)據(jù)，大大提高了效率。02性能，優(yōu)勢(shì)盡顯速度驚人：采用新的智能算法以及新型相機(jī)，數(shù)據(jù)采集...

在傳統(tǒng)測(cè)量領(lǐng)域，復(fù)雜工件的檢測(cè)往往面臨效率低、操作繁瑣、動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)不足等痛點(diǎn)。而SensoFIVE的出現(xiàn)，正以其特別的五軸動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)呈現(xiàn)技術(shù)，為這一領(lǐng)域帶來不一樣性的變革。傳統(tǒng)測(cè)量常受困于操作復(fù)雜、動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)不足，而SensoFIVE的出現(xiàn)打破了這一局面。，時(shí)長(zhǎng)02:54它與Sneox五軸系統(tǒng)無縫協(xié)作，三維查看器能實(shí)時(shí)展現(xiàn)五軸運(yùn)動(dòng)細(xì)節(jié)，旋轉(zhuǎn)角度、高度調(diào)整皆直觀可見，讓測(cè)量從抽象變具象。放置樣本到平面托盤，3D查看器可快速還原其形狀；借助旋轉(zhuǎn)支架測(cè)量圓柱體時(shí)，實(shí)時(shí)反饋?zhàn)尣僮鞲憬?，?..

一、Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡核心應(yīng)用場(chǎng)景半導(dǎo)體制造與微電子檢測(cè)晶圓表面形貌測(cè)量：精確檢測(cè)晶圓表面粗糙度(Ra關(guān)鍵尺寸(CD)表征：利用共聚焦模式捕捉光刻膠結(jié)構(gòu)的側(cè)壁粗糙度(Sa封裝缺陷檢測(cè)：檢測(cè)芯片與基板貼合平整度，發(fā)現(xiàn)空洞、翹曲等問題，保障電子封裝電氣性能。例如，在動(dòng)力電池模組封裝中，通過30片/分鐘的高速檢測(cè)識(shí)別0.2μm涂層不均缺陷，年節(jié)省探針刮傷導(dǎo)致的報(bào)廢成本超280萬元。精密零部件與模具制造表面粗糙度評(píng)估：測(cè)量發(fā)動(dòng)機(jī)葉片、精密齒輪等高精度零部件的表面形貌...

一、Slynx2：多技術(shù)融合的三維測(cè)量方案該系統(tǒng)在同一傳感器頭內(nèi)集成干涉、共聚焦和AI多焦面疊加技術(shù)，搭配6個(gè)不同鏡頭的電動(dòng)鼻輪與125×75毫米電動(dòng)XY平臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)多尺度測(cè)量。點(diǎn)擊觀看網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)視頻↓，時(shí)長(zhǎng)38:28以髖關(guān)節(jié)植入物髖臼杯外部測(cè)量為例，采用共聚焦技術(shù)與50倍長(zhǎng)焦鏡頭，通過Z向掃描獲取三維圖像，再借助SensoVIEW軟件分析數(shù)據(jù)，精準(zhǔn)評(píng)估表面狀況，為骨細(xì)胞整合優(yōu)化提供依據(jù)二、QvixPivot：支架缺陷檢測(cè)的專業(yè)之選作為針對(duì)支架與心臟瓣膜框架的檢測(cè)方案，其運(yùn)用...

在半導(dǎo)體芯片尺寸逼近物理極限、納米材料應(yīng)用突破傳統(tǒng)邊界的今天，如何實(shí)現(xiàn)微米級(jí)甚至納米級(jí)器件的精準(zhǔn)測(cè)試與操控，成為制約科技創(chuàng)新的關(guān)鍵瓶頸。澤攸憑借自主研發(fā)的探針臺(tái)系列產(chǎn)品，以“三維定位精度達(dá)納米級(jí)、環(huán)境適應(yīng)性跨越-196℃至400℃”的核心技術(shù)，為微納電子、光電材料、量子計(jì)算等領(lǐng)域提供了從基礎(chǔ)研究到產(chǎn)業(yè)化的全鏈條解決方案。一、半導(dǎo)體行業(yè)的“質(zhì)量守門人”在晶圓制造環(huán)節(jié)，澤攸手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)通過特制熱沉設(shè)計(jì)將溫度波動(dòng)控制在±0.1℃以內(nèi)，配合高精度微調(diào)樣品座，可實(shí)現(xiàn)0....

Ssw的定義與物理意義Ssw指的是與傅立葉變換最大值相對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)。從表面紋理的構(gòu)成機(jī)制來看，任何物體表面都可視為不同尺度波的疊加組合，而傅立葉變換能夠定量分析各個(gè)波長(zhǎng)成分對(duì)整體紋理的貢獻(xiàn)程度。在此過程中，Ssw參數(shù)所表征的正是對(duì)表面紋理形成貢獻(xiàn)最大的波長(zhǎng)分量。需要特別指出的是，Ssw的應(yīng)用存在一定的適用范圍。當(dāng)面對(duì)缺乏明顯周期性圖案的表面時(shí)，該參數(shù)的表征意義會(huì)相應(yīng)減弱。這是因?yàn)樵谶@種情況下，不存在占主導(dǎo)地位的波長(zhǎng)成分，傅立葉變換的最大值所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)無法準(zhǔn)確反映表面的典型特征。...

在半導(dǎo)體制造、精密光學(xué)加工等高級(jí)領(lǐng)域，表面形貌的微小起伏可能直接影響器件性能。白光干涉儀憑借其納米級(jí)測(cè)量精度，成為微觀形貌檢測(cè)的“黃金標(biāo)準(zhǔn)”。其核心原理在于利用光的干涉現(xiàn)象，將表面高度變化轉(zhuǎn)化為可量化的光學(xué)信號(hào)，實(shí)現(xiàn)非接觸、高精度的三維形貌測(cè)量。一、干涉原理：光程差與表面高度的精密映射白光干涉儀通過分光棱鏡將光源分為兩束光：一束投射至被測(cè)樣品表面，另一束射向參考鏡。兩束反射光在CCD相機(jī)感光面疊加形成干涉條紋。當(dāng)樣品表面存在高度差時(shí)，光程差隨之變化——每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程...