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Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測(cè)量?jī)x 在檢測(cè)大尺寸樣品（如電路板、光學(xué)鏡片、模具型腔）時(shí)，傳統(tǒng) 3D 輪廓儀常因視野有限，需要多次掃描后拼接數(shù)據(jù)，不僅耗時(shí)久，還可能因拼接偏差影響結(jié)果準(zhǔn)確性。

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