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我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關(guān)我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關(guān)新功能的信息，有一個(gè)演示該系統(tǒng)在CMP過(guò)程的案例研究以及我們?cè)谥袊?guó)的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個(gè)新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場(chǎng)100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強(qiáng)。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

隨著國(guó)家對(duì)新材料和新工藝的迫切需求，功能無(wú)機(jī)材料和化工產(chǎn)品的研發(fā)與應(yīng)用正在蓬勃發(fā)展。與此同時(shí)，如何進(jìn)行高分辨率的微觀表征和實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)，也成為相關(guān)研究的重要課題。在這一領(lǐng)域，掃描電鏡以其獨(dú)*的成像與分析功能，提供了極*價(jià)值的解決方案。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了納米級(jí)空間分辨率，可以直接觀測(cè)樣品的微納結(jié)構(gòu)。同時(shí)，其配備的能譜系統(tǒng)可以分析材料元素組成，研究材料結(jié)構(gòu)與性能之間的內(nèi)在關(guān)系。此外，ZEM18還可進(jìn)行各種原位測(cè)試，實(shí)現(xiàn)對(duì)化學(xué)反應(yīng)過(guò)程的實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。這為研...

掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工藝等領(lǐng)域的*備工具，它可以通過(guò)探測(cè)樣品表面激發(fā)出來(lái)的電子信號(hào)，對(duì)物質(zhì)微觀形貌進(jìn)行表征。在半導(dǎo)體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測(cè)和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測(cè)試分析儀器所無(wú)法提供的直接測(cè)量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測(cè)、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)分析等功能，適用于半導(dǎo)體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實(shí)現(xiàn)器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測(cè)和剖面分析，提高半導(dǎo)體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定...

近期，加拿大多倫多大學(xué)YuZou課題組與北京大學(xué)高鵬課題組、美國(guó)愛荷華州立大學(xué)QiAn課題組、加拿大達(dá)爾豪斯大學(xué)PenghaoXiao課題組合作，報(bào)道了利用電場(chǎng)控制位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)，他們通過(guò)原位和原子尺度電鏡表征結(jié)合理論計(jì)算揭示了電場(chǎng)控制位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)的機(jī)制。該研究成果以“利用電場(chǎng)控制位錯(cuò)移動(dòng)”（Harnessingdislocationmotionusinganelectricfield）為題，于6月19日發(fā)表在《自然-材料》（NatureMaterials）。位錯(cuò)是晶體中常見的線缺陷，...

液晶顯示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)是當(dāng)前社會(huì)中應(yīng)用非常多的顯示器，在日常生活中隨處可見。LCD主要由彩色濾光片基板(Colorfilter，CF)、TFT陣列(TFTArray)基板和背光模塊(Backlightunit)三大部分所組成。TFTLCD面板結(jié)構(gòu)（圖片來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)）在這三大組成部分里面，背光模塊對(duì)LCD非常重要，因?yàn)楸彻赓|(zhì)量決定了液晶顯示屏的亮度、出射光均勻度、色階等重要參數(shù)，決定了液晶顯示器的發(fā)光效果。在背光模塊中有一層非常重要的光學(xué)薄...

每當(dāng)發(fā)生命案，社會(huì)廣泛關(guān)注，盡早破案，最快找到兇手是每個(gè)人的心聲。但是隨著*罪分子反偵察技術(shù)不斷提高，作案手段智能化發(fā)展趨勢(shì)，*罪分子通過(guò)毀滅證據(jù)，*裝現(xiàn)場(chǎng)等手段，掩蓋或破壞*罪現(xiàn)場(chǎng)，使得刑事偵察難上加難，為此我們有必要借助某些精密設(shè)備，更快的找到*罪第一現(xiàn)場(chǎng)，更快找到真兇，還原事情真相，作出公正的判罰。掃描電鏡在司法鑒定行業(yè)發(fā)揮著不可忽略的作用，它具有檢測(cè)快速簡(jiǎn)便，取材少，無(wú)損檢測(cè)，放大倍數(shù)高等一系列優(yōu)點(diǎn)，成為刑事技術(shù)檢測(cè)的重要工具。ZEM15掃描電鏡是澤攸科技自主研發(fā)的鎢...

在現(xiàn)代制造業(yè)和科研領(lǐng)域，平面度的精確測(cè)量至關(guān)重要。無(wú)論是汽車發(fā)動(dòng)機(jī)的缸蓋密封性檢測(cè)，還是航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片的平整度評(píng)估，都需要依賴高精度的測(cè)量工具。白光干涉儀，憑借其優(yōu)秀的橫向和縱向分辨率，已成為平面度測(cè)量的選擇利器。白光干涉儀的工作原理基于光的干涉現(xiàn)象。當(dāng)一束白光照射在待測(cè)物體表面時(shí)，會(huì)形成反射光和透射光。這兩束光相遇后，會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，形成明暗相間的干涉條紋。干涉條紋的形狀和間距與物體表面的形貌密切相關(guān)。通過(guò)比較標(biāo)準(zhǔn)平面和待測(cè)物體表面的干涉條紋，我們可以精確計(jì)算出待測(cè)物體表面...

在現(xiàn)代科技飛速發(fā)展的今天，精密測(cè)量?jī)x器的設(shè)計(jì)不僅要滿足高精度的測(cè)量需求，更要注重美觀與集成的便捷性。三維共聚焦白光干涉儀測(cè)量頭，以其杰出的性能和特殊的設(shè)計(jì)，成為了市面上最漂亮的可集成區(qū)域共聚焦傳感器之一。這款測(cè)量頭的設(shè)計(jì)充分體現(xiàn)了現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計(jì)的精髓。其外觀簡(jiǎn)潔流暢，線條優(yōu)美，無(wú)論是從哪個(gè)角度看，都透露出一種精致的美感。同時(shí)，它的體積小巧，結(jié)構(gòu)緊湊，這使得它在集成到各種測(cè)量系統(tǒng)中時(shí)，能夠輕松融入，不會(huì)占用過(guò)多空間，也不會(huì)干擾到其他設(shè)備的正常運(yùn)行。更重要的是，這款三維共聚焦白光干...