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在當(dāng)今的材料科學(xué)與納米技術(shù)領(lǐng)域，原位分析技術(shù)已經(jīng)成為科學(xué)家們探索微觀世界至關(guān)重要的工具。其中，澤攸科技推出的SEM（掃描電子顯微鏡）和TEM（透射電子顯微鏡）原位分析系統(tǒng)，以其杰出的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，贏得了國內(nèi)外科研人員的廣泛贊譽。SEM原位分析系統(tǒng)通過電子束掃描樣品表面，利用二次電子、背散射電子等信號成像，能夠直觀展示樣品的表面形貌和化學(xué)成分分布。這一技術(shù)不僅分辨率高，而且景深大，使得樣品表面的微小細節(jié)得以清晰呈現(xiàn)。更重要的是，澤攸SEM原位分析系統(tǒng)還配備了原位拉伸、加...

Sensofar共聚焦白光干涉儀是一種高性能的3D光學(xué)輪廓測量儀器，其結(jié)合了共聚焦、干涉測量等多種先進技術(shù)，實現(xiàn)了對物體表面形貌的高精度測量。以下是對其測量原理與技術(shù)的詳細解析：一、測量原理干涉測量原理干涉技術(shù)的基本原理是將光分成光學(xué)傳播路徑不同的兩個光束，然后再合并，從而產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。在干涉物鏡的作用下，顯微鏡可以作為干涉儀工作。當(dāng)焦點對準(zhǔn)后，可在樣本上觀察到干涉條紋。這些條紋的強度和相位信息反映了樣本表面的高度信息。共聚焦測量原理共聚焦技術(shù)通過多個光源和探測器組合，實現(xiàn)對...

隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展，芯片尺寸的逐漸縮小以及制造工藝的精細化，使得對材料和器件表面精度的要求越來越高。在半導(dǎo)體行業(yè)，尤其是在集成電路(IC)和光刻工藝中，表面平整度（平面度）的測量變得尤為重要。傳統(tǒng)的平面度測量方法往往難以滿足現(xiàn)代半導(dǎo)體制造的高精度需求，而白光干涉儀因其非接觸、高分辨率、全局性測量特性，成為半導(dǎo)體行業(yè)中的一種重要工具，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造中的平面度檢測。一、白光干涉儀原理概述本儀器基于干涉原理，利用白光源的寬光譜特性，通過測量反射光與參考光之間的干涉條紋來...

觀察–分析–辨別在微電子學(xué)和微電子機械系統(tǒng)工業(yè)中，您需要觀察、分析和辨別產(chǎn)品的特性。過程控制和失效分析中同樣需要使用顯微鏡。設(shè)備物理結(jié)構(gòu)的知識對了解過程至關(guān)重要。微電子產(chǎn)品的開發(fā)和微電子機械系統(tǒng)（MEMS）的設(shè)計依賴于高效的顯微鏡。運用不同的光學(xué)顯微技術(shù)，可以檢測產(chǎn)品的不同特征，如裂紋、孔洞或結(jié)點。在小型機械設(shè)備制造中，光學(xué)顯微鏡常常被用來評估模型及用于監(jiān)測精密機械加工結(jié)果。質(zhì)量控制–需要合適的工具三維成像技術(shù)能為很多質(zhì)量控制方面的檢測提供便利。共焦掃描顯微鏡可檢測諸如焊接點...

堅固耐用的常規(guī)儀器和先進的研究工具在機械工程和多種機械設(shè)備及配件的生產(chǎn)制造中會經(jīng)常使用光學(xué)和電子顯微鏡。它們需要堅固耐用的常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)化測量儀器和先進精密的研究工具。在新材料研發(fā)、表面處理、焊接點和緊固件的過程控制，以及質(zhì)量控制與失效分析等領(lǐng)域中，您可以使用光學(xué)顯微鏡進行檢測分析。結(jié)構(gòu)檢驗鋼結(jié)構(gòu)部件斷裂的根源往往是因為微觀結(jié)構(gòu)的瑕疵，而斷裂結(jié)構(gòu)以及微觀瑕疵都能在光學(xué)顯微鏡下進行觀察辨別。諸如螺母和螺栓等緊固件的完整性對器具裝置的結(jié)構(gòu)安全而言是相當(dāng)重要的。通常而言，檢驗通過重點關(guān)注...

化學(xué)工業(yè)和制造業(yè)在化工業(yè)和塑料產(chǎn)品制造業(yè)中，無論您是進行高分子原材料的生產(chǎn)，還是進行工業(yè)和最終消費產(chǎn)品的生產(chǎn)，光學(xué)和電子顯微鏡都發(fā)揮著重要的作用。塑料零部件和結(jié)構(gòu)化組件在航空航天、汽車、建筑等行業(yè)乃至醫(yī)療設(shè)備中均起到重要的作用。結(jié)晶晶體形貌不僅影響了高分子材料的所有機械性能，也影響其生物降解性和生物兼容性。為了成功地控制聚合物的微觀結(jié)構(gòu)并達到預(yù)期特性，您需要對高分子材料結(jié)晶過程有一個很好的理解。正置式顯微鏡和偏光顯微鏡不僅能夠用于檢測成品，也能用于檢測晶體在原位的生長（通常與...

顏色–偏光顯微研究光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學(xué)和礦物表征的*備工具。典型的應(yīng)用是對礦物的紋理和解離進行定性、定量分析及測定。大部分巖石和礦物樣品含有光學(xué)各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的最重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結(jié)晶度和巖石礦物形貌，幫助識別各類巖石礦物。檢測更多的特性偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓...

陶瓷：具有良好的抗腐蝕和導(dǎo)熱性陶瓷是建筑材料、瓷磚或衛(wèi)生設(shè)施等許多產(chǎn)品的關(guān)鍵組成部分。由于陶瓷材料具有良好的抗腐蝕和導(dǎo)熱性，因此在某些*端環(huán)境下陶瓷作為耐火材料（如爐襯等）有著廣泛的應(yīng)用。技術(shù)先進的專業(yè)陶瓷也被應(yīng)用于電氣與電子行業(yè)，例如用作陶瓷絕緣體等；而在醫(yī)學(xué)工程領(lǐng)域，如牙移植或涂有羥基磷灰石的人工骨骼的醫(yī)學(xué)修復(fù)中，陶瓷亦有應(yīng)用。在新型材料開發(fā)中，我們常常需要對陶瓷的微觀顯微結(jié)構(gòu)及特性之間的關(guān)系進行研究。在失效分析中，微觀顯微結(jié)構(gòu)可作為識別斷裂原因的有價值參考信息。而在質(zhì)量...